Desde la Delegación Territorial de la Comunidad Valenciana y Murcia del Ilustre Colegio Oficial de Ingeniería Geomática y Topográfica tenemos el placer de presentaros las Jornadas sobre aplicaciones de captura masiva de datos organizadas por Topcon en colaboración con Metricalgeo y la Universidad Católica San Antonio de Murcia el próximo 18 de Mayo, a partir de las 09:00h, y hasta las 17:00.
Podrá ver en vivo las soluciones TOPCON de mobile mapping, laser scanning y UAV’s, junto con las herramientas de software usadas para explotar este tipo de datos.
Tendremos todavía una muestra de nuestra solución de auscultación automática, en un conjunto de talleres que presentarán además las soluciones de software dedicados a explotación de imágenes y nubes de puntos.
El horario de los talleres será el siguiente:
- Soluciones de auscultación automática – 09:30 a 10:15
- Soluciones de mobile mapping e inventario – 10:30 a 11:15
- Soluciones de láser scanning terrestre y explotación de nubes de puntos – 11:30 a 12:15
- Soluciones de VANT y cartografía e inspección aérea – 12:30 a 13:15
Dónde
Universidad Católica San Antonio
Avenida de los Jerónimos, 135